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1.晶片的声束扩散角主要取决于：
A、试验的类型；
B、晶片背衬材料的紧密性； C、频率和晶片尺寸；
D、脉冲长度。
2.振动体上绝对或相对无振动的一点、一条线或一个平面叫做：
A、波腹；
C、波节；
3.下列哪种介质的纵波声速最高
A、空气；
C、不锈钢；
4.引起衰减的因素主要有：
A、介质的吸收；
C、声束的扩散；
5.金属零件中的粗大晶粒通常会引起：
A、底反射降低或消失；
B、穿透力下降
C、较高的杂波或噪声显示 D、以上均是。
6.决定声波在两种不同材料界面上反射量大小的因素有：
A、折射率；
B、超声波的频率
D、声特性阻抗。C、杨氏模量；
7.超声振动常用于：
A、检查材料的不连续性；
B、测厚； C、评价材料的晶粒度；
D、以上均是。
8.超声波以一定角度入射到两种不同材料的界面上时，声波在第二种材料中以新的方向传播是由哪种原因引起的？
B、散射 D、以上均是。B、水
D、铝合金。
B、波线
D、波前。A、衰减；
B、稀疏； C、压缩；
D、折射。
9.声波入射至两种声阻抗不同的界面时，一定发生： A、透射；
B、反射； C、折射；
D、以上均正确。
10.发生90折射纵波的声束入射角称为：
A、第一临界角；
B、第二临界角； C、第三临界角；
D、以上均不正确。
11.超声波以某一角度入射到两种不同材料的界面上时，声波一定会发生下列哪种现象：
A、折射；
B、反射； C、波型转换；
D、衰减。
12.下列哪种探伤中最可能使用25MHz的探头？
A、接触法垂直探伤；
B、液浸探伤； C、接触法斜角探伤；
D、接触法表面波探伤。
13.当材料确定以后，声速主要取决于：
A、波型；
B、外界温度对被检材料的影响； C、材料所受的压应力；
D、以上均是。
14.同种波型的声波，入射角将：
A、大于反射角；
B、小于反射角； C、等于反射角；
D、与反射角无关。
15.对缺陷进行评估的基本信息有： A、材料内部不连续性的幅度；
B、入射信号与接收信号之间的传播时间； C、声波通过材料后的衰减；
D、以上均是。
14.在换能器声束远场中： A、声束边缘的声强度最大；
B、声束中心线上的声强度最大；
C、声束边缘与中心线的强度一样；
D、以上均是。
16.声速主要取决于：
A、脉冲长度；
C、材料的特性和振动方式；
17.声束扩散角将随：
A、频率和晶片直径减小而增大； B、频率和晶片直径减小而减小；
C、频率的增加而增加；
D、以上均不正确。18.横波探伤主要应用于：
A、测定金属制品的弹性特性；
C、检测与横波声束平行的缺陷；
19.对于弹簧的检测，主要应用下列哪种波型：A、横波；
C、表面波；
20.凹面缺陷一定引起：
A、声能扩散；
B、频率；
D、波形。
B、焊缝和管材的探伤；
D、以上均是。
B、纵波；
D、以上均是。B、声束聚焦；
C、声波波长的改变；
D、以上说法均不正确。
21.声波在第二介质中声压极低，大部分能量被反射, 透射极少，入射声压与反射声压在相位上相差180°，出现这种情况的条件是 A、Z1>Z2；
B、Z1
C、Z1=Z2；
D、以上条件均需满足。
22.如果用5MHz的探头替代2.25MHz的探头进行探伤，则在被检试件中产生的波长将：
A、不变；
B、增大；
C、减小；
D、随声阻抗变化。
23.为了增加超声波在粗晶材料中的穿透能力并不影响回波的分析，应采用的方法是
A、提高检测频率；
B、用直径较大的探头进行检验； C、提高仪器的发射强度； D、提高仪器的阻尼
24.一般来说，在频率一定的情况下，在给定的材料中，横波探测缺陷要比纵波灵敏，这是因为
a.横波比纵波的波长短
b.横波质点振动的方向比缺陷更为灵敏
c.在材料中横波不易扩散
d.横波比纵波的波长长
25.接收器在接收到发射脉冲信号后的瞬间引起的灵敏度降低的现象称为：
26.窄脉冲探头一般是: a.灵敏度较低的探头 b.宽带探头 c.低Q值探头 d.以上都对 A、触发
B、阻塞
C、抑制
D、失真
27.应用超声波检查的往往是飞机的重要承力件或结构件，为保证准确地检查出关键部位的缺陷，应特别重视：
A、仪器和探头的选择
B、用于调整灵敏度的试块除应与检查部件尺寸材料相同外，模拟裂纹也应与可能产生的裂纹位置相似
C、检查过程中灵敏度必须保持一致
D、必须注意区分由形状或不正确操作所产生的干扰波
28.测试垂直线性时，要求使用：
A、声程相差一倍的两个反射体回波波幅 B、声程相同的两个反射体回波波幅 C、一次底波幅度 D、两次底波幅度
29.采用较高的探测频率有利于提高：
30.接触法探伤时，如果超声探伤仪的脉冲重复频率过高，可能发生：
31.位于探头表面和被检材料表面之间，用来使超声振动从探头传输到被检材料中去的材料叫做：
32.如果超声仪垂直线性较差会产生：
A、缺陷尺寸误差 B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检 A、湿润剂 B、耦合剂
C、声发射器
D、润滑剂 A、荧光屏图形亮得无法观察 C、始脉冲消失
B、时基线畸变
D、扫描过程荧光屏上会出现幻象信号 A、对小缺陷的检测能力 C、相邻缺陷的分辨力
B、对缺陷的定位精度
D、以上都是 33.在哪种超声波探伤法中，用衰减法确定缺陷的位置最有效？
34.表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值，通常代表：
35.垂直探伤时发现一个缺陷显示，其振幅较低而底反射降低较大，该缺陷的取向可能是：
36.最大扫描速度主要取决于：
37.试块的主要作用是：
A、测定仪器和探头的综合性能 B、评价缺陷大小
38.如果超声仪水平线性较差会产生：
39.下列哪些因素影响灵敏度和信噪比？
40.缺陷的定量评定方法有：
A、当量法 B、缺陷回波高度法
C、地面回波高度法及F/BF法 A、探头和试块
B、仪器性能
C、耦合状态
D、以上都是 A、缺陷尺寸误差 B、缺陷形状误差 C、缺陷位置误差 D、缺陷漏检
B、确定探伤灵敏度和测定范围 A、探头频率
B、粘滞问题
D、阴极射线管荧光屏的余辉 A、平行于零件表面 C、与声束平行
B、与表面平行度为主45? D、与表面成较大的角度 A、缺陷深度 B、缺陷至探头前沿距离
C、缺陷声程
D、以上都可能 A、切变波 B、纵波
C、表面波
D、爬波
C、探伤仪的脉冲重复频率
D、以上都是
D、缺陷延伸度定量评定法
E、以上全部 41.粗糙的入射表面会使：
42.哪些因素会在荧光屏上产生不相关显示？
43.液浸法超声波探伤时中，发现缺陷时，通常需要调整探头角度，其目的是：
A、避免大量的底反射对正常波型的干扰 B、使不垂直于超声束的缺陷反射信号最大 C、使得到的入射表面反射的数目最多
D、使缺陷显示高度与参考试块中平底孔显示高度相等
44.影响缺陷定量的因素：
A、缺陷因素
B、声场因素 E、以上都是
C、超声耦合 A、复杂的型面
B、边缘效应
C、表面效应
D、以上都是 A、缺陷回波振幅降低
C、A和B都是
B、入射面回波加宽 D、以上都不是
D、材质衰减
45.斜探头探伤凸耳类件时，常用的缺陷定位方法是：
46.凹面缺陷会使：
A、通过零件的声波发散
B、使反射声束会聚于一点，该点位置是由缺陷表面曲率决定的 C、超声波的波形增强 D、以上都不对
47.超声检验系统能分辨的已知尺寸不连续性与入射面之间的最小距离称为：
A、表面分辨力
B、入射面分辨力
C、纵向分辨力
D、始波占宽
A、声程定位法
B、深度定位法
C、水平定位法
D、宽度定位法 48.缺陷尺寸相同时，超声波最容易发现的是：
49.现场对超声仪进行校准的方法是：
50.在超声探伤仪中，为了减少或消除电或材料的噪声，以突出较大信号的一种控制方法是：
51.下列哪种缺陷可以使用脉冲反射法检查？
52.原位检查多层复合材料脱粘的最好方法是：
53.用试块中的反射体调整探伤仪增益，使反射体回波幅度达到规定幅度的操作称作为：
A、声程范围标定 B、灵敏度标定 C、垂直线形标定 D、水平线形标定
54.按下列哪种方法是测定分贝调节器准确度？
A、将反射体波高100%满屏自下调节 B、将反射体波高100%满屏自上调节 C、将反射体波高50%满屏自下调节 D、将反射体波高50%满屏自上调节
55.测定入射面分辨力时，要求被测的反射波前沿与相邻界面反射波相交处不大于满刻度的：
A、10% B、20%
C、50%
D、80% A、反射法 B、穿透法
C、水浸法
D、都是 A、蜂窝积水 B、表面裂纹
C、深度腐蚀
D、以上都可以 A、衰减
B、补偿
C、抑制
D、以上都是 A、人工缺陷试块 B、自然缺陷试块 C、被检零件表面 D、以上都可以 A、球形的空洞
B、与声波入射方向相垂直的裂纹 D、异金属夹杂 C、与声波前进方向相平行的裂纹 56.调整探伤灵敏度的原则是：
57.用钢中横波折射角45度探头探测铝件时，横波折射角将：
58．缺陷反射声能的大小，取决于：
A、缺陷的尺寸 B、缺陷的类 C、缺陷的形状和取向 D、以上全部
59.在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为： A、只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值 B、声束沿中心轴线投射到缺陷中心 C、声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上 D、通常将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
60.探伤面上涂层耦合剂的主要目的是：
A、防止探头磨 B、消除探头和金属面之间的空气 C、有利于探头滑动 D、防止工件生锈
61.液浸探伤时的优点包括：
A、检验速度 B、能控制和调整声束角度 C、适合于自动扫描
D、以上都是
62.探头与被检材料直接接触进行超声探伤的方法可能是：
A、垂直探伤 B、表面波探伤 C、斜角探伤 D、A、B和C均有可能
63.表面波探伤时，产生显示的原因可能是：（若CL钢=5.9 CS钢=3.2 CL铝=6.3 CS铝=3.1）A、大于45度
B、小于45度
C、等于45度
D、不确定 A、要求检出最小的缺陷 C、确定合理的探伤条件
B、要求检出所有部位的缺陷 D、根据工艺要求确定 A、表面缺陷 B、表面上的脏物 C、表面上的油 D、以上都可能
64.换能器从不同的埋藏深度的相同反射体接收的信号差别可能是由哪种原因引起的？
65.带延迟块的接触探头用于： A、轴类零件的探伤 C、厚度测量或薄板件探伤
66.晶片的声束扩散角主要取决于：
A、试验的类型； B、晶片背衬材料的紧密性； C、频率和晶片尺寸； D、脉冲长度。
67.振动体上绝对或相对无振动的一点、一条线或一个平面叫做： A、波腹； C、波节；
68.下列哪种介质的纵波声速最高 A、空气； B、水 C、不锈钢； D、铝合金。
69.引起衰减的因素主要有： A、介质的吸收； C、声束的扩散；
70.金属零件中的粗大晶粒通常会引起：
B、散射
D、以上均是。
B、波线 D、波前。
B、声波特性鉴定 D、衰减测量 A、材料衰减
B、声束扩散
C、近场效应
D、以上都可能 A、底反射降低或消失；
C、较高的杂波或噪声显示
71.决定声波在两种不同材料界面上反射量大小的因素有： A、折射率； C、杨氏模量；
72.超声振动常用于：
A、检查材料的不连续性； B、测厚； C、评价材料的晶粒度； D、以上均是。
B、穿透力下降 D、以上均是。
B、超声波的频率
D、声特性阻抗。
73.超声波以一定角度入射到两种不同材料的界面上时，声波在第二种材料中以新的方向传播是由哪种原因引起的？
A、衰减； B、稀疏； C、压缩； D、折射。
74.声波入射至两种声阻抗不同的界面时，一定发生： A、透射； B、反射； C、折射； D、以上均正确。
75.发生90折射纵波的声束入射角称为：
A、第一临界角； B、第二临界角； C、第三临界角； D、以上均不正确。
76.超声波以某一角度入射到两种不同材料的界面上时，声波一定会发生下列哪种现象：
A、折射； B、反射； C、波型转换； D、衰减。77.下列哪种探伤中最可能使用25MHz的探头？
A、接触法垂直探伤； B、液浸探伤； C、接触法斜角探伤； D、接触法表面波探伤。
78.当材料确定以后，声速主要取决于：
A、波型； B、外界温度对被检材料的影响； C、材料所受的压应力； D
79.同种波型的声波，入射角将：
A、大于反射角； BC、等于反射角； D。
80.对缺陷进行评估的基本信息有： A、材料内部不连续性的幅度； B、入射信号与接收信号之间的传播时间；C、声波通过材料后的衰减； D、以上均是。
81.在换能器声束远场中： A、声束边缘的声强度最大； B、声束中心线上的声强度最大；
C、声束边缘与中心线的强度一样； D、以上均是。
82.声速主要取决于：
A、脉冲长度； BC、材料的特性和振动方式； D
83.声束扩散角将随：、以上均是。、小于反射角；、与反射角无关、频率；、波形。A、频率和晶片直径减小而增大； B、频率和晶片直径减小而减小；
C、频率的增加而增加； D、以上均不正确。
84.横波探伤主要应用于：
A、测定金属制品的弹性特性； B、焊缝和管材的探伤； C、检测与横波声束平行的缺陷； D、以上均是。
85.对于弹簧的检测，主要应用下列哪种波型：
A、横波； B、纵波； C、表面波； D、以上均是。
86.凹面缺陷一定引起：
A、声能扩散； B、声束聚焦； C、声波波长的改变； D、以上说法均不正确。
87.声波在第二介质中声压极低，大部分能量被反射, 透射极少，入射声压与反射声压在相位上相差180°，出现这种情况的条件是 A、Z1>Z2； B、Z1
C、Z1=Z2； D、以上条件均需满足。
88.如果用5MHz的探头替代2.25MHz的探头进行探伤，则在被检试件中产生的波长将： A、不变； B、增大；
C、减小； D、随声阻抗变化。
89.为了增加超声波在粗晶材料中的穿透能力并不影响回波的分析，应采用的方法是 A、提高检测频率；
B、用直径较大的探头进行检验； C、提高仪器的发射强度； D、提高仪器的阻尼
90在下图的方钢超声波检测中，如果折射角为50°，超声波的正确传播方式是
1．超声波的扩散衰减主要取决于材料的晶粒度和材料的粘滞性。2．第三临界角是指介质中折射横波为90°时的横波入射角。3．第二临界角是指介质中折射横波为90°时的纵波入射角。
4．平面波在曲面上的透射是聚焦还是发散，主要取决于界面的弯曲方向和介质的声速比
5．声波的波动是指振动质点在某一时刻的位移。
6．从探头晶片辐射的超声波，声束中心轴上的声压随与晶片的距离单调下降。7．反射和透射的比例除与介质的声阻抗相关外，也与入射角相关。8．超声波入射至不同声阻抗界面时都将发生反射，并伴随波型转换。9．通常材料晶粒尺寸与波长的关系满足：d=（1/10）λ时，超声波的散射不会影响检验结果。
10.晶粒尺寸(d)与超声波长(λ)可比拟时，超声能量在晶粒的界面上引起反射，而使传播的能量减小。波长愈小，衰减愈小。11.超声波在液体介质中的衰减主要来自于散射衰减。
12.均匀介质中薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声波几乎全透射而无反射。
13.纵波沿拉应力方向传播时，其声速将随应力的增大而减小。
14.表面波检查螺旋桨叶时，由于表面波仅在距表面1个波长的深度传播，所以需要在试件的两侧进行扫查。
15.超声波通过异质薄层时，声压反射率和透过率仅与介质声阻抗和薄层声阻抗有关。16.超声试验中，发射脉冲的持续时间叫做脉冲长度或脉冲宽度。17.脉冲持续时间越短，该脉冲所包含的谐波成分越多。
18.根据折射定律可知，当超声波从一种介质倾斜入射至另一介质时，其入射方向的改变仅与界面两侧的声速有关。
19.根据反射定律可知，当超声波从一种介质倾斜入射至另一介质时，会发生入射方向的改变和波型转换。
20.通常情况下，衰减随频率的增高而增大，且横波衰减小于纵波。
21.平面波在曲面上的透射是聚焦还是发散，主要取决于界面的弯曲方向和介质的声速比
22.声波的波动是指振动质点在某一时刻的位移。
23.从探头晶片辐射的超声波，声束中心轴上的声压随与晶片的距离单调下降。24.反射和透射的比例除与介质的声阻抗相关外，也与入射角相关。25.超声波入射至不同声阻抗界面时都将发生反射，并伴随波型转换。26.通常材料晶粒尺寸与波长的关系满足：d=（1/10）λ时，超声波的散射不会影响检验结果。
27.晶粒尺寸(d)与超声波长(λ)可比拟时，超声能量在晶粒的界面上引起反射，而使传播的能量减小。波长愈小，衰减愈小。28.超声波在液体介质中的衰减主要来自于散射衰减。
29.均匀介质中薄层厚度为四分之一波长的奇数倍时，声波几乎全透射而无反射。
30.表面波检查螺旋桨叶时，由于表面波仅在距表面1个波长的深度传播，所以需要在试件的两侧进行扫查。
31.超声波通过异质薄层时，声压反射率和透过率仅与介质声阻抗和薄层声阻抗有关。
32.超声试验中，发射脉冲的持续时间叫做脉冲长度或脉冲宽度。33.脉冲持续时间越短，该脉冲所包含的谐波成分越多。
34.根据折射定律可知，当超声波从一种介质倾斜入射至另一介质时，其入射方向的改变仅与界面两侧的声速有关。
35.根据反射定律可知，当超声波从一种介质倾斜入射至另一介质时，会发生入射方向的改变和波型转换。
36.通常情况下，衰减随频率的增高而增大，且横波衰减小于纵波。
37.在用瑞利波探伤时，会出现变型横波和变型纵波。
38.瑞利波在凸面上传播时声速较平面偏大，凹面上速度则较小。
39.在超声检测中用的压电晶片一般都工作在脉冲状态，为使波形不失真和提高分辨力，希望有较高的Qm。
40.在检查试件时，联合双晶探头的隔声层纵向取向一般宜与缺陷的可能延伸方向垂直。
41.正压电效应是指当压电晶片受发射电脉冲激励后,由于电场作用引起晶片内部正负电荷中心发生位移，这种位移在宏观上表现为产生了变形(或应变)，产生超声波。
42.当入射角大于第二临界角时即可产生表面波。
43.晶体压电效应的大小及其性质仅与电场强度及所施外力大小有关。44.在荧光屏面代表被检工件的投影面，能给出缺陷的水平投影位置，但不能给出深度。该种显示称作B型显示。
45.B型显示是指其荧光屏面代表被检工件由探头扫查线的纵截面，即纵坐标代表超声波的传播时间；横坐标代表探头水平位置。
46.发射电路产生的高频电脉冲信号激励换能器产生声波，若该高频频率过高会造成透射性较好的材料产生幻像波。
47.DAC电路是能使处于不同深度同样大小的缺陷具有大致相同的回波高度。48.抑制会使荧光屏上显示的波高不再与输入信号幅值成正比，使杂波的幅度减小。
49.视频显示直接显示回波声压波形，能比较真实地反映出超声脉冲在介质中的传播情况，有利于分析回波的波形特征。
50.动态范围是指放大器的线性放大区，其分贝值越大，范围越大。51.超声检测仪的接收电路部分包括高频放大、同步电路、抑制、视频放大 52.减小超声检测仪的阻尼（damp）值，使仪器具有较高的分辨力，以分辨试件中相邻的两个缺陷。53.为提高扫描速度可适当提高同步脉冲重复频率。
54.对于A型超声检测仪，根据反射回波在扫描基线上的刻度可以知道缺陷的位置；根据反射回波在垂直范围的刻度可以知道声压的当量大小。55.为提高检验灵敏度，仪器的发射强度应尽量调高一些。
56.实现聚焦声束最常用的方法是利用声透镜原理，透镜形状可以是球面的或圆柱面。
57.超声检测仪发射电路产生脉冲信号高达100 ~ 400V 58.激励换能器工作幅度越高，脉冲越宽，声能提高，分辨力大。
59.对于数字式超声检测仪，因其数模转换器的采样频率、显示器的分辨率、刷新速度等带来得信号失真，可对检测信号的评价带来影响，导致漏检和误判。60.用锆钛酸铅所制成的探头受连接电缆的种类、长度影响较小，不会引起检测灵敏度产生较大变化。
61.非调谐式发射电路因无调谐元件，发射的超声频率由压电晶片的固有参数决定，所以脉冲持续时间较短，具有很高的灵敏度。
62.由于空气的声阻抗很小，所以不能用它做耦合剂检测金属试件。63.液浸聚焦斜探头通常有透镜式、反射式和曲面晶片式。
64.按对不同频率的响应（频谱）分为宽带和窄带直探头。前者灵敏度高。后者分辨力高。
65.双晶探头中晶片的倾角取决于要探测区域距探测面的深度。66.压电陶瓷是由于具有一定的自发极化的电畴所引起的。
67.压电应变常数是指由于应力变化所产生的电场强度变化与应变变化之比，它关系着晶片发射性能的好坏。
67.通常在晶片背面装上阻尼块，以增大晶片的振动阻尼；吸收晶片背面发出的超声波。
68.斜探头在检测之前均需测定其入射点和折射角；
69.信噪比是指荧光屏上最小缺陷回波幅度与最大噪声幅度之比。70.当发生61°反射时声程不随探头位置的变化而改变。
71.侧壁反射声束的声程比直通波声程大4λ时，侧壁反射即可避免。72.当量尺寸小的缺陷实际尺寸不一定小，当量尺寸大的缺陷其实际面积却一定大。
73.当表面平均粗糙度Rz ≈ λ/2时，使进入工件的声波形成若干个主声束。74.扫查时用力按压探头，并不能避免漏检。也不能保持灵敏度稳定。75.采用B/BF进行缺陷当量评定时，反射声波的幅度不仅和缺陷面积有关，还和缺陷的反射情况有关。
76.无论横波或纵波，其传输修正值的测定方法均是通过试块的底波与工件底波的比较，取其比值的分贝差。
77.无论接触法或液浸法检测，均可将界面回波作为声程的零点。
78.一次脉冲反射法不仅可以发现缺陷的位置，还可以估计材料对声能的衰减程度
79.在同一材料中横波速度约为纵波的一半，因而指向性和分辨力比纵波好。80.横向分辨力取决于超声脉冲自身的宽度。
81.在钢件中形成61°的条件是：入射纵波与界面法线夹角为61°，产生的反射纵波与界面法线夹角为29°。
82.超声检测薄工件时宜采用大K值的探头,以拉开跨距,提高分辨能力和定位精度;83.当在钢件中形成61°反射时，其声程不随探头位置的变化而改变。84.由于横波探伤时存在声能衰减较大,反射声束位移等问题，所以一般采用一次或二次波探伤。
85.在进行横波检测时必须进行零位校准，否则会导致缺陷定位不准确。86.纵波沿拉应力方向传播时，其声速将随应力的增大而减小。
87.由于缺陷回波的频谱包络形状与缺陷几何形状及取向密切相关，因此可以通过向缺陷发射宽脉冲，利用不同形状与取向缺陷的反射与频率的依从关系并对接收到的回波信号频谱进行分析从而判断缺陷种类和性质。88.实用AVG图只适用于特定材料、特定尺寸和特定频率的探头，对于不同探头，有不同的AVG图，彼此之间不能通用。
89.缺陷回波高度法优点是荧光屏有效面积或垂直满刻度不同时仍可得到一致的结果。
90.底面回波高度法适用于试件上下表面与入射声束垂直且缺陷反射面大于声束截面。
91.声阻法适用于大多金属或非金属胶接结构的脱粘和分层缺陷的检测。可检出的最小缺陷约为0.5平方英寸
92.谐振法主要应用于检测金属/非金属板-蜂窝脱粘缺陷
93.当试件内存在较大的内应力时,将使超声波的传播速度及方向发生变化
94.超声波从固体进入液体时有可能会出现第三临界角
95.在钢中测定为某一折射角的斜探头，在铝中测定时其折射角变大
96.超声波检测中,幻像波的产生原因是在衰减小的材料中脉冲重复频率选用过高 97.使用声学聚焦透镜能提高灵敏度和横向分辨率，但是减小了检测范围
思考题： 1.2.3.4.5.6.7.8.9.选择频率应由哪些因素决定？ 影响缺陷回波幅度的因素有哪些？ 影响分辨力的因素有哪些？ 影响灵敏度的因素有那些？ 超声检测对耦合剂的要求是什么？ 探头扫查时应注意什么？
水浸法探伤时水距选取原则是什么？ 横波探伤时怎样确定耦合状况是否良好？ 简述脉冲反射法和穿透法各自的优缺点。
10.机械阻抗法、谐振法的原理和适用范围。11.简述A型超声波检测仪的工作过程
12.提高近表面缺陷的探测能力的方法
